三、觀(guān)察與數(shù)據(jù)記錄階段

在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試人員要記錄每個(gè)回合中問(wèn)題行為是否發(fā)生。在每個(gè)情境下收集10個(gè)回合的數(shù)據(jù)之后，將每個(gè)階段中問(wèn)題行為的總發(fā)生次數(shù)相加，然后用發(fā)生次數(shù)除以評(píng)估回合的總次數(shù)，再乘以100，計(jì)算出行為的發(fā)生率。比如，在逃避情境的測(cè)試階段，自閉癥兒童問(wèn)題行為發(fā)生了7次，回合總數(shù)為10，將問(wèn)題行為的發(fā)生次數(shù)除以該階段回合的次數(shù)，再乘以100，計(jì)算出行為的發(fā)生率為70%。記錄方法并不局限，自閉癥治療師可以使用方便的方法收集數(shù)據(jù)。

四、數(shù)據(jù)圖表的呈現(xiàn)

比較控制和測(cè)試兩階段以及不同情境下問(wèn)題行為的發(fā)生情況，通常用柱狀圖表示。柱狀的高度代表每個(gè)情境的控制或測(cè)試段中問(wèn)題行為的發(fā)生率，用以解釋數(shù)據(jù)和識(shí)別問(wèn)題行為的功能。

五、數(shù)據(jù)說(shuō)明

每種情境下柱狀圖高度之間的差異用于確定問(wèn)題行為的功能。接下來(lái)，我們一起來(lái)看可能出現(xiàn)的四種數(shù)據(jù)模式。

1、High-high模式（控制和測(cè)試階段發(fā)生率都較高）：如果問(wèn)題行為在一個(gè)情境的控制和測(cè)試階段都以較高的百分比出現(xiàn)，二且在兩個(gè)階段之間沒(méi)有明顯差異，這種模式通常表明為自動(dòng)強(qiáng)化。

2、High-low模式（控制階段發(fā)生率高，測(cè)試階段發(fā)生率低）：如果問(wèn)題行為在控制階段發(fā)生率較高，而在測(cè)試階段很少發(fā)生，則表明為自動(dòng)強(qiáng)化。

3、Low-low模式（控制和測(cè)試階段發(fā)生率都較低）：如果在控制階段和測(cè)試階段，問(wèn)題行為很少發(fā)生，則該數(shù)據(jù)模式表明在該情境下測(cè)試的功能不會(huì)產(chǎn)生問(wèn)題行為。比如自閉癥兒童在獲得關(guān)注情境下，控制和測(cè)試階段沒(méi)有發(fā)生問(wèn)題行為，說(shuō)明他產(chǎn)生這一行為的功能并不是獲得關(guān)注。如果Low-low模式出現(xiàn)在所有的四種情境下，則TBFA無(wú)法檢測(cè)到行為的功能。在這種情況下，自閉癥治療師應(yīng)該進(jìn)行更多的回合或重新進(jìn)行評(píng)估，確定TBFA是否應(yīng)在其他常規(guī)或活動(dòng)中進(jìn)行。

4、Low-high模式（控制階段發(fā)生率低，測(cè)試階段發(fā)生率高）：在測(cè)試階段比在控制階段中出現(xiàn)的問(wèn)題行為多，這種數(shù)據(jù)模式表明行為可能由在該情境下測(cè)試的功能引發(fā)。比如，在獲得實(shí)物或活動(dòng)情境下，自閉癥兒童的問(wèn)題行為都發(fā)生在測(cè)試階段，而在控制部分沒(méi)有發(fā)生。這樣的高度差表明孩子的問(wèn)題行為是由獲得實(shí)物或活動(dòng)的功能引發(fā)的。

六、教學(xué)計(jì)劃的設(shè)計(jì)

根據(jù)確定的行為功能設(shè)計(jì)教學(xué)計(jì)劃。教學(xué)開(kāi)展的一個(gè)關(guān)鍵組成部分是利用評(píng)估為實(shí)踐提供信息。因此，在制定有效滿(mǎn)足自閉癥兒童需求的教學(xué)實(shí)踐時(shí)，教師應(yīng)利用TBFA的結(jié)果作出基于數(shù)據(jù)的決定。

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